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美国Radiant LC II铁电材料测试系统
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美国Radiant LC II铁电材料测试系统

美国RADIANT是目前市面上进的铁电测试仪,集频率响应、电压范围和精度于一体。系统配有一个快速的迟滞额定频率270kHz的+/-100v,使得薄膜和散装陶瓷的测试变得快速和简单。

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是否进口:否产地:美国加工定制:否
品牌:Radiant型号:LC II适用范围:薄膜和陶瓷材料
外置电压:10Kv数模转换:18位波形输出:16位

Radiant LC II是市面上进的铁电测试系统。具有独特的频率等级250khz在+ / - 100V的内置系统,实现对薄膜和块体陶瓷快速而简单的测试。



LC II无需改变测试样品的连接,即可实现滞回,脉冲,漏电,IC,IV的测试。配备额外的模块,可实现热释电性能、磁电特性、晶体管特性、低温性能、块体陶瓷和/或薄膜压电性能的测试。

LC II提供了多种内部放大器,±100V/200V/500v内置驱动电压的可供选择。可外置扩展10KV的高压接口和一个放大器。系统包括可视化数据采集和管理系统软件。




可实现的测试功能:

1.电滞回线测试;

2.记忆特性测试;

3.漏电流测试;

4.疲劳测试;

5.脉冲测试;

6.IV测试;

7.CV测试保持力测试;

8.印痕测试;

备注:另外还有压电测试、热释电测试、磁电测试需配合另外升级选件实现。


Tester Parameter                                                                         

 LC II

Voltage Range (built-in   drive voltage)

±10V,  ±30V, ±100V, ±200V or   ±500V built-in

Voltage Range with an   external amplifier and high voltage interface (HVI)

10KV                                        

Number of ADC Bits

18

Minimum Charge Resolution

10fC

Minimum Area Resolution   (assuming 1 ADC bit = 1μC/cm2)

<1μ2

Maximum Charge Resolution

276μC

Maximum Area Resolution   (assuming saturation polarization = 100μC/cm2)

2.76cm2

Maximum Charge Resolution   with High Voltage Interface (HVI)

27.6mC

Maximum Area Resolution   (assuming saturation polarization = 100μC/cm2) w/o HVI

>100cm2     

Maximum Hysteresis Frequency

5KHz @ 10V     


5KKHz @ 30V


5KHz @ 100V


5KHz @ 200V


2KHz @ 500V

Minimum Hysteresis Frequency

0.03Hz

Minimum Pulse Width

0.5μs

Minimum Pulse Rise Time (5V)

40μs

Maximum Pulse Width

1s

Maximum Delay between Pulses

40ks

Internal Clock

25ns

Minimum Leakage Current   (assuming max current integration period = 1 seconds)

1pA

Maximum Small Signal Cap   Frequency

20KHz

Minimum Small Signal Cap   Frequency

1Hz

Output Rise Time Control

103 scaling

Input Capacitance                                                           

-6fF

Electrometer Input All Test   Frequencies for all test at any speed 

Yes

* The minimum area   resolution under actual test conditions depends upon the internal noise   environment of the tester, the external noise environment, and the test jig   parasitic capacitance.

*** Tester specifications   are subject to change without notice.




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